根據(jù)行業(yè)動態(tài)推測,新一代PCIe規(guī)范-PCIe Gen6將在2025年下半年開始加速落地。值此技術(shù)迭代的關鍵時期,泰克(Tektronix)和安立(Anritsu)在2025年8月26日于蘇州舉辦的PCIe技術(shù)發(fā)展大會上...
關鍵字: 測試測量為保障測試安全,在對直流電源進行串聯(lián)運行時,必須使用串聯(lián)連接盒(SCB)。憑借25μs的過壓檢測響應時間,該裝置能有效防止串聯(lián)設備超過額定絕緣電壓,保障系統(tǒng)安全運行。
關鍵字: 測試測量本文介紹了Force-I QSCV技術(shù),解釋了如何在Clarius軟件中使用這些測試,將該技術(shù)與其他方法進行了比較,驗證了Force-I QSCV在測量速度、穩(wěn)定性、精度及設備需求方面的顯著優(yōu)勢。
關鍵字: 測試測量本文通過引入脈沖應力與電荷泵技術(shù),解決了傳統(tǒng)直流方法在先進CMOS及高K材料可靠性評估中的三大盲區(qū):動態(tài)恢復效應、頻率相關壽命、界面陷阱實時監(jiān)測。
關鍵字: 測試測量在人工智能的發(fā)展歷程中,我們往往認為更多的訓練、更復雜的數(shù)據(jù)能讓 AI 變得更加智能。然而,近期一些研究卻揭示了令人意外的現(xiàn)象:對小型 AI 語言模型進行數(shù)學訓練時,過度訓練可能會導致其表現(xiàn)急劇下降,甚至出現(xiàn) “變笨”...
關鍵字: 人工智能 數(shù)據(jù) 模型