觸發(fā)鏈路接口

所有數(shù)字源表都包含吉時(shí)利獨(dú)有的觸發(fā)鏈路接口，以實(shí)現(xiàn)與吉時(shí)利許多其它儀器的高速、無(wú)縫通信。例如，使用觸發(fā)鏈路接口連接數(shù)字源表與7000系列開(kāi)關(guān)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)完整的多點(diǎn)測(cè)試方案。通過(guò)觸發(fā)鏈路，7000系列開(kāi)關(guān)系統(tǒng)能獨(dú)立于計(jì)算機(jī)和GPIB在高速測(cè)試序列期間用數(shù)字源表進(jìn)行控制。

自動(dòng)化實(shí)現(xiàn)高速測(cè)試

數(shù)字源表能提高生產(chǎn)測(cè)試的效率。數(shù)字源輸出電壓或電流并同時(shí)完成測(cè)量，無(wú)需修改連接。它適于不間斷生產(chǎn)環(huán)境的可靠工作。為了滿足生產(chǎn)應(yīng)用所需的吞吐率要求，數(shù)字源表能提供許多內(nèi)置功能以執(zhí)行復(fù)雜的測(cè)試序列無(wú)需速度較慢的計(jì)算機(jī)控制或GPIB通信。

標(biāo)準(zhǔn)和定制掃描

使用自動(dòng)化鉤子技術(shù)的掃描方案極大提高了測(cè)試速度。提供的三種基本掃描波形可以設(shè)置為單事件或連續(xù)工作。它們非常適于I/V、I/R、V/I和V/R特性分析。

•線性階梯掃描：以等線性臺(tái)階從起始電平移至終止電平

•對(duì)數(shù)階梯掃描：以對(duì)數(shù)比例用每十個(gè)作為指定數(shù)量的臺(tái)階進(jìn)行掃描

•定制掃描：通過(guò)指定測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量和每個(gè)點(diǎn)的源電平構(gòu)建特殊掃描

•高達(dá)1700讀數(shù)/秒@4位半精度至GPIB總線

•5000個(gè)5位半讀數(shù)可以保存在非易失緩存中

Start=開(kāi)始

Stop=結(jié)束

Bias=偏壓

線性階梯掃描

對(duì)數(shù)階梯掃描

User defined steps=用戶定義的臺(tái)階

定制掃描

Test=測(cè)試

測(cè)試序列舉例

測(cè)試

通過(guò)/失敗測(cè)試

如果測(cè)試通過(guò)

如果測(cè)試失敗

測(cè)試1

在100mA檢查VF1的通過(guò)/失敗極限

轉(zhuǎn)到測(cè)試2

1將器件扔進(jìn)垃圾箱

2發(fā)送數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)的同時(shí)機(jī)械手放置新器件

3返回測(cè)試1

測(cè)試2

檢查VF2在1A條件下的通過(guò)/失敗極限

轉(zhuǎn)到測(cè)試3

測(cè)試3

檢查在-500V條件下的漏電流并測(cè)試通過(guò)/失敗極限

1將器件放至良品箱

2發(fā)送讀數(shù)至計(jì)算機(jī)的同時(shí)機(jī)械手放置新器件

3返回測(cè)試1

I-V特性分析

類似于所有2400系列數(shù)字源表，2401數(shù)字源表能實(shí)現(xiàn)4象限操作。工作在第1和第3象限時(shí)，2401用作源為負(fù)載輸出功率。工作在第2和第4象限時(shí)，2401數(shù)字源表用作負(fù)載消耗能量。電壓、電流和電阻可以在源或阱工作時(shí)進(jìn)行測(cè)量。

Duty cycle limited=占空比極限

2401的4象限工作

內(nèi)建測(cè)試定序儀（源內(nèi)存清單）

由于您可以在無(wú)需PC干預(yù)的情況下建立和執(zhí)行多達(dá)100種不同的測(cè)試，所以源內(nèi)存清單提供更快捷、更方便的測(cè)試。

•存儲(chǔ)多達(dá)100項(xiàng)儀器配置，每一項(xiàng)均包括源設(shè)置、測(cè)量設(shè)置、通過(guò)/失敗標(biāo)準(zhǔn)等

•通過(guò)/失敗極限測(cè)試速度達(dá)500μs/點(diǎn)

•板上比較器消除了發(fā)送數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)進(jìn)行分析產(chǎn)生的延遲

•內(nèi)建、用戶定義的數(shù)學(xué)函數(shù)用于計(jì)算衍生參數(shù)