IPC—國(guó)際電子工業(yè)聯(lián)接協(xié)會(huì)®宣布IPC APEX印度將舉行一天半的綜合性研討會(huì)，旨在幫助工程師解決電子制造業(yè)內(nèi)迫切關(guān)注的問題。專業(yè)發(fā)展研討會(huì)將于2013年8月26(星期一)至8月29日(星期四)在印度班加羅爾NIMHANS會(huì)展中心舉行，全部由知識(shí)淵博的知名講師主講。

8月26日(星期一)的三個(gè)講座，為工藝和設(shè)計(jì)工程師們提供行業(yè)頂尖專家的深刻見解。屆時(shí)，IPC名人堂成員——Ray Prasad咨詢集團(tuán)的Ray Prasad將發(fā)表的演講《無鉛領(lǐng)域SMT的4P：原則(Principles)、實(shí)踐(Practices)、前景(Promises) 和問題(Problems)》。Americom Seminars公司的Robert Hanson將探討EMI/EMC的關(guān)鍵問題，指導(dǎo)如何設(shè)計(jì)和建立一個(gè)兼容系統(tǒng)。最后一個(gè)講座《PCB設(shè)計(jì)中信號(hào)和電源完整性挑戰(zhàn)》，由ASM Technologies班加羅爾公司的Narasimha S. L. Murthy講授。

Prasad和Hanson還將在8月27日(星期二)下午繼續(xù)講授兩個(gè)講座，分別為《底部端子元件(BTCs)的設(shè)計(jì)和組裝工藝挑戰(zhàn)：錫鉛和無鉛領(lǐng)域的QFN、DFN和 MLF》以及《通孔及其對(duì)高速數(shù)字信號(hào)的影響》。

8月28日(星期三)將有多個(gè)專題講座，歷時(shí)一天的講座《失效分析以提高可靠性》，由美國(guó)馬里蘭大學(xué)CALCE測(cè)試服務(wù)和失效分析研究中心的Bhanu Sood主講。此外，另有四個(gè)半天的研討會(huì)。Prasad將在上午討論《球柵陣列：原則和實(shí)踐》，Hanson將介紹《接地入門知識(shí)：模擬和數(shù)字平面》。下午，Prasad將探討《無鉛產(chǎn)品的產(chǎn)量故障》，Hanson將聚焦《差分信號(hào) — 信號(hào)質(zhì)量和路線優(yōu)化的權(quán)衡》。

8月29日(星期四)是活動(dòng)的最后一天，上午的三個(gè)講座分別是，《無鉛領(lǐng)域的可制造性設(shè)計(jì)(DfM)》，演講者為Prasad;《DDR 3/4 和 PCle 3/4總線的接口設(shè)計(jì)》，演講者為Hanson;《偽造部件識(shí)別和消減的最新工具和技術(shù)》，演講者為Sood。