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[導讀]兩級功放通常由驅動級和末級組成。驅動級的作用是將輸入信號進行初步放大,為末級功放提供足夠的激勵信號;末級功放則負責將驅動級送來的信號進一步放大,以輸出足夠的功率驅動負載。不同類型的功放,如 A 類、B 類、AB 類等,其工作原理和性能特點有所不同。例如,A 類功放的晶體管在整個信號周期內均導通,具有良好的線性度,但效率較低;B 類功放的晶體管僅在半個信號周期內導通,效率較高,但存在交越失真;AB 類功放則結合了 A 類和 B 類的優(yōu)點,在一定程度上兼顧了線性度和效率。了解這些基本原理,有助于在測試中分析和判斷驅動級可能出現(xiàn)的問題及其對測試結果的影響。

兩級功放通常由驅動級和末級組成。驅動級的作用是將輸入信號進行初步放大,為末級功放提供足夠的激勵信號;末級功放則負責將驅動級送來的信號進一步放大,以輸出足夠的功率驅動負載。不同類型的功放,如 A 類、B 類、AB 類等,其工作原理和性能特點有所不同。例如,A 類功放的晶體管在整個信號周期內均導通,具有良好的線性度,但效率較低;B 類功放的晶體管僅在半個信號周期內導通,效率較高,但存在交越失真;AB 類功放則結合了 A 類和 B 類的優(yōu)點,在一定程度上兼顧了線性度和效率。了解這些基本原理,有助于在測試中分析和判斷驅動級可能出現(xiàn)的問題及其對測試結果的影響。

靜態(tài)工作點的檢查與調整

靜態(tài)工作點是功放正常工作的基礎。在排除驅動級影響時,首先要確保驅動級的靜態(tài)工作點處于正常范圍。通過測量驅動級晶體管的基極、集電極和發(fā)射極電壓,可以判斷其工作狀態(tài)是否正常。若靜態(tài)工作點偏離設計值,可能導致信號失真、增益異常等問題,從而影響對末級功放性能的準確評估。

例如,若基極電壓過高或過低,可能使晶體管進入飽和或截止狀態(tài),造成信號削波失真。此時,需要檢查偏置電路的電阻、電容等元件是否損壞或參數(shù)發(fā)生變化,必要時進行調整或更換,以使靜態(tài)工作點恢復到正常狀態(tài)。

信號注入與隔離測試

為了排除驅動級對末級功放測試的影響,可以采用信號注入與隔離測試的方法。具體做法是,在驅動級與末級功放之間設置一個隔離點,例如在兩級之間的耦合電容處斷開連接。然后,直接向末級功放的輸入端注入一個已知特性的測試信號,如正弦波信號。通過測量末級功放的輸出信號,就可以單獨評估末級功放的性能,而不受驅動級的干擾。

在注入信號時,要注意信號的幅度和頻率應在末級功放的正常工作范圍內。同時,使用高質量的信號發(fā)生器和測量儀器,以確保測試信號的準確性和測量結果的可靠性。例如,若要測試末級功放的頻率響應特性,可以注入不同頻率的正弦波信號,測量在各個頻率點上的輸出幅度,從而繪制出頻率響應曲線。

對比測試法

對比測試法是一種有效的排除驅動級影響的手段。具體操作是,先搭建一個僅包含驅動級的測試電路,對驅動級的性能進行單獨測試和分析。然后,再搭建完整的兩級功放電路,進行整體測試。通過對比兩次測試的結果,就可以判斷驅動級對整個兩級功放性能的影響程度。

在測試驅動級時,可以關注其增益、失真、輸出阻抗等參數(shù)。若驅動級的增益不穩(wěn)定,可能導致末級功放輸入信號的幅度波動,影響末級功放的輸出性能。通過對比測試,若發(fā)現(xiàn)整體測試結果與驅動級單獨測試結果存在較大差異,就需要進一步檢查驅動級與末級功放之間的匹配問題,如阻抗匹配、信號電平匹配等。

負載模擬與匹配

在兩級功放測試中,負載的特性對功放性能的影響不容忽視。為了準確評估末級功放的性能,需要使用合適的負載模擬器,模擬實際負載的阻抗特性。同時,要確保驅動級與末級功放之間、末級功放與負載之間的阻抗匹配良好。

如果阻抗不匹配,會導致信號反射,影響功放的輸出功率和效率,甚至可能損壞功放器件。例如,在音頻功放測試中,通常使用揚聲器模擬器來模擬實際揚聲器的阻抗特性。通過調整負載模擬器的參數(shù),使其與實際負載阻抗一致,可以更真實地測試末級功放的性能,排除因負載不匹配而導致的測試誤差。

電源穩(wěn)定性的保障

穩(wěn)定的電源是功放正常工作的重要前提。在兩級功放測試中,電源的波動可能會對驅動級和末級功放產生不同程度的影響,從而干擾測試結果。因此,要使用高質量的穩(wěn)壓電源,并采取有效的濾波措施,確保電源的穩(wěn)定性。

可以在電源輸入端和功放電路的電源引腳處分別接入合適的濾波電容,以減少電源中的紋波和噪聲。同時,要注意電源的功率容量是否滿足功放的需求,避免因電源功率不足而導致功放工作異常。例如,若電源紋波過大,可能會在功放輸出信號中引入額外的噪聲,影響對功放信噪比等性能指標的測試結果。

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