Holtek新推出鋰電池管理MCU HT32F61730/HT32F61741，相較于第二代HT32F61630/HT32F61641，鋰電池電壓偵測精準度提升至±15mV，新增差分OPA提升偵測充/放電電流精準度并且內(nèi)建硬件短路保護，實現(xiàn)快速響應關閉MOS，適合應用于3~8串鋰電池產(chǎn)品，如BMS板、電動工具、無線吹風機、無線吸塵器等。

HT32F61730/HT32F61741具備32KB/64KB Flash ROM、SRAM容量為2KB/8KB，最高運行速度為16MHz/20MHz，I/O方面具有23個多功能引腳并提供豐富外圍資源，如UART、SPI、I2C、7外部通道最快1Msps的SAR ADC、最多15通道16-bit PWM等。整合2組Low-side高壓Gate-driver、1組High-side高壓Gate-driver用于驅動MOSFET。內(nèi)建待機零功耗與2組高壓喚醒電路，整機耗電流可低至0.1μA，增加電池待機時間，并于充電器接入或按鍵按下時喚醒MCU。內(nèi)建被動均衡電路與過溫保護，大幅減少零件數(shù)量并縮減PCB空間。封裝提供64LQFP-EP。

HT32F61730/HT32F61741的開發(fā)環(huán)境與HT32系列相同，支持多種開發(fā)環(huán)境(Keil/IAR/SEGGER/GNU)，并提供硬件開發(fā)工具包、周邊驅動函數(shù)庫(Firmware Library)及應用范例等完整的開發(fā)資源。Holtek全系列M0+ MCU取得Keil MDK-ARM用戶許可證，可提供客戶免費使用。搭配ISP(In-System Programming)及IAP(In-Application Programming)技術方案，可輕易升級韌體，也提供自檢鏈接庫(Safety Test Library)，可通過UL/IEC 60730-1 Class B認證，縮短產(chǎn)品認證時間。