2023年7月17日，中國北京——為促進(jìn)半導(dǎo)體物理研究領(lǐng)域的學(xué)術(shù)交流，把握國際重大前沿領(lǐng)域的發(fā)展動向，提升國際學(xué)術(shù)影響力，兩年一度的【全國半導(dǎo)體物理學(xué)術(shù)會議】于2023年7月13-16日在上海舉行。會議內(nèi)容包括特邀報告、邀請報告、口頭報告、海報，會議云集學(xué)術(shù)、產(chǎn)業(yè)各界多位相關(guān)領(lǐng)域的院士及政府領(lǐng)導(dǎo)、科研單位、高校知名專家學(xué)者等，預(yù)計(jì)規(guī)模超2000人。泰克公司參加了【第二十四屆全國半導(dǎo)體物理學(xué)術(shù)會議】，展示了其在半導(dǎo)體領(lǐng)域的最新技術(shù)和成果。

作為一家全球領(lǐng)先的測試、測量和監(jiān)測解決方案知名品牌，泰克近年來與客戶、合作伙伴聯(lián)手一道解決前沿探索過程中的種種難題，助力半導(dǎo)體物理技術(shù)的發(fā)展和革新。在【第二十四屆全國半導(dǎo)體物理學(xué)術(shù)會議】期間，泰克集中展示最新測試方案，為低維半導(dǎo)體材料測試、新一代寬禁帶半導(dǎo)體材料測試、神經(jīng)形態(tài)器件與腦類計(jì)算、半導(dǎo)體量子器件測試等前沿研究提供全面領(lǐng)先解決方案。

應(yīng)對二維/石墨烯材料及電子器件測試挑戰(zhàn)

電阻率及霍爾效應(yīng)測試均是加流測壓的過程，需要設(shè)備能輸出電流并且測試電壓，這意味著同時需要電流源和電壓表，并且電流源和電壓表精度要高，保證測試的準(zhǔn)確性。

電阻率及電子遷移率通常范圍較大，需要電流電壓范圍都很大的設(shè)備。同時，還需與探針臺配合，測試設(shè)備需方便連接，需易用的軟件。另外，霍爾效應(yīng)測試時，通常要準(zhǔn)備霍爾條（Hall Bar）。

新一代寬禁帶半導(dǎo)體材料測試

新一代寬禁帶（WBG）材料，如碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）的使用度正變得越來越高。在電氣方面，這些物質(zhì)比硅和其他典型半導(dǎo)體材料更接近絕緣體。這些物質(zhì)的采用，旨在克服硅的局限性，而這些局限性源自其是一種窄禁帶材料，所以會引發(fā)不良的導(dǎo)電性泄漏，且會隨著溫度、電壓或頻率的提高而變得更加明顯。這種泄漏的邏輯極限是不可控的導(dǎo)電率，相當(dāng)于半導(dǎo)體運(yùn)行失效。

砷化鎵（GaAs）和碳化硅（SiC）等材料對未來的電力傳輸技術(shù)至關(guān)重要。材料研究也是提高太陽能電池的轉(zhuǎn)換效率和功率輸出的關(guān)鍵。泰克和吉時利在創(chuàng)造一些最靈敏的測試和測量儀器方面一直處于世界領(lǐng)先地位，這使研究人員、科學(xué)家和工程師能夠釋放新材料的潛力。

使用4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測試儀）加快各類材料、半導(dǎo)體器件和先進(jìn)工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能領(lǐng)先電學(xué)特性參數(shù)分析儀，提供同步電流電壓曲線測試（I-V曲線測試）、電容-電壓曲線測試（C-V曲線測試）和超快脈沖I-V曲線測量。

電輸運(yùn)測試方案助力半導(dǎo)體量子器件測試

除了低電平測試儀器，通常電輸運(yùn)測試還要配置SMU作為直流激勵源。特殊情況下還需要AFG作為交流激勵源，采集卡或示波器用于采集鎖放輸出信號。如果測試介電常數(shù)，還需配置靜電計(jì)。高頻輸運(yùn)特性的研究是電輸運(yùn)特性測試的發(fā)展方向，研究高頻輸運(yùn)特性時，需配置帶寬達(dá)GHz的任意波形發(fā)生器。

單一被測樣品測試方案——6221/2182A一套，24XX或26XX一臺，選配（各一臺）：AFG31252、2002八位半數(shù)字萬用表、6514或6517或6430（測試介電常數(shù)）。

高頻輸運(yùn)特性測試方案——高頻輸運(yùn)特性測試，在一般輸運(yùn)特性配置基礎(chǔ)上，需增配AWG系列任意波形發(fā)生器。泰克提供AWG5200及AWG70000系列任意波形發(fā)生器。

為神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)測試提供定制化開發(fā)和集成

類腦計(jì)算是借鑒神經(jīng)科學(xué)處理信息的基本原理，面向人工智能，發(fā)展新的非馮諾依曼計(jì)算的新技術(shù)，類腦計(jì)算的基礎(chǔ)是人工神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)。人工神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)是由大量處理單元互聯(lián)組成的非線性、自適應(yīng)信息處理系統(tǒng)，它通常是由新型高速非易失存儲器組成的陣列構(gòu)成，新一代高速存儲器包括阻變存儲器、相變存儲器、鐵電存儲器等兩端器件和半浮柵晶體管，電解質(zhì)柵晶體管等三端器件。

神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)陣列維數(shù)越高，拓?fù)湓綇?fù)雜，所需的測試通道就越多，測試成本也越高，測試流程也會變得更復(fù)雜。最新的研究成果顯示，神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)陣列研究已經(jīng)達(dá)到32x32三端器件節(jié)點(diǎn)組成的陣列，并在短期內(nèi)有向更高的維度發(fā)展的趨勢。由于神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)陣列測試系統(tǒng)價格昂貴，連接及流程控制復(fù)雜，通常的解決方法是用FPGA搭建測試裝置，但測試精度以及權(quán)威性都無法與由專業(yè)的高精度測試儀器組成的測試系統(tǒng)相提并論。

對適當(dāng)維數(shù)的神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)陣列，如32x32兩端節(jié)點(diǎn)或16x16三端節(jié)點(diǎn)陣列，用高精度測試儀器搭建測試系統(tǒng)的價格還是可以接受的。測試系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)在于它不僅能夠進(jìn)行功能性測試，還能以極高的測試精度完成神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)陣列的訓(xùn)練，深度學(xué)習(xí)等方面的研究探索。

神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)陣列測試，首先需要根據(jù)被測節(jié)點(diǎn)的表征參數(shù)選擇合適的測試儀器，其次還要根據(jù)被測陣列的芯片管教布局定制探卡，最后要根據(jù)測試項(xiàng)目定制軟件，實(shí)現(xiàn)自動化測試。泰克憶阻器/神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)測試系統(tǒng)包含單元測試及陣列測試兩大類，每一大類又包含不同的配置以滿足不同研究階段的測試需求。泰克公司中國研發(fā)中心可以為這一領(lǐng)域的客戶提供定制開發(fā)及系統(tǒng)集成。

除此之外，泰克還為半導(dǎo)體自旋電子器件與物理測試、半導(dǎo)體光電子材料與器件測試、化合物半導(dǎo)體器件與集成測試、柔性電子器件與應(yīng)用測試、半導(dǎo)體傳感器與微納機(jī)電系統(tǒng)測試、集成電路設(shè)計(jì)與EDA測試、集成芯片與先進(jìn)封裝、半導(dǎo)體邏輯/存儲器件與集成測試等提供更多半導(dǎo)體測試解決方案。

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關(guān)于泰克科技

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