傳統(tǒng)的時域參數(shù)如阻抗、時延差的測試需要基于采樣示波器的TDR測試功能；而傳統(tǒng)的頻域參數(shù)如插入損耗、回波損耗、串?dāng)_等S參數(shù)的測試需要矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。由于很多場合時域和頻域測試都是同時需要的，所以可以采用基于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀并擴(kuò)展了TDR功能的一體化解決方案，如Keysight的ENA-TDR方案，其可以同時完成頻域、時域和眼圖的測量。測試方案如下圖所示。

基于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的時域反射TDR功能操作類似傳統(tǒng)的基于采樣示波器的TDR儀器，但相對于傳統(tǒng)TDR，它有如下特點(diǎn)：

· 基于VNA的結(jié)構(gòu)，內(nèi)部很容易實(shí)現(xiàn)ESD保護(hù)電路，正弦波激勵信號在測量時會掃過VNA 的整個測量頻率范圍，測量結(jié)果從輸入與輸出信號的矢量比中得到。因此，即使保護(hù)電路會導(dǎo)致部分損耗，使用矢量比也可以消除這些損耗，從而確保測量精度不受影響可以確保產(chǎn)品的可靠工作，但采樣示波器TDR由于內(nèi)部ESD保護(hù)電路會降低階越發(fā)生器的性能，采樣示波器TDR內(nèi)部不使用ESD保護(hù)電路，所以非常容易因?yàn)镋SD損壞。

· ENA-TDR的用戶界面經(jīng)過重新設(shè)計，和傳統(tǒng)的TDR設(shè)備使用方式類似，使現(xiàn)在的數(shù)字工程師可以輕松、直觀地進(jìn)行操作，使用戶可以同時進(jìn)行時域阻抗和頻域S參數(shù)測量以及靈活地選擇參數(shù)。它能夠生成仿真眼圖，在互連測試階段不需要使用額外的碼型發(fā)生器，因此可以降低擁有成本。

· 由于基于采樣示波器的噪聲相對網(wǎng)絡(luò)儀來說較大，同時實(shí)現(xiàn)高動態(tài)范圍和快速測量具有一定難度，需要通過取平均法可以降低噪聲，但是這會影響測量速度。ENA-TDR 具有>100 dB 動態(tài)范圍，以觀察 DUT 的真實(shí)性能?？梢宰R別極低電平信號，如差分器件的串?dāng)_和模式轉(zhuǎn)換。具有極低的噪聲，當(dāng)IFBW 為 70 kHz 時，小于0.023 dBrms，用于精確和可重復(fù)的測量，基本可以忽略儀器自身的底噪聲成分。

· 現(xiàn)在很多規(guī)范比如說SAS要求測試Hot TDR，也就是在上電工作狀態(tài)下測試TDR，比如SATA要求測試MFTP下的阻抗，由于采樣示波器TDR采用寬帶接收機(jī)，在有輸入信號的情況下，需要加更多的平均以反映階約信號的反射特性，而網(wǎng)絡(luò)儀使用窄帶接收機(jī)，可以準(zhǔn)確接受掃頻信號頻點(diǎn)，不需要加平均也可以正確接收并測量反射特性。