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[導讀]多探頭測試技術Anechoic chamber (multi-probe, SFE)是基于吸波暗室的測試方案或者稱之為空間衰落模擬(SFE)的測試方案。

為了滿足通訊行業(yè)對更高數(shù)據(jù)率的需求,多天線技術在移動終端的應用愈來愈廣,為了準確檢測訊號在MIMO多重路徑下的收發(fā)性能,LTE MIMO OTA測試解決方案變得越加重要,MIMO測試方案長久以來都被無線行業(yè)中的3GPP(第三代合作項目),COST2100(歐洲科學和技術合作)和CTIA(移動通信和因特網協(xié)會)所研究及討論。今年11月CTIA通過了LTE MIMO OTA測試規(guī)范Anechoic chamber (multi-probe, SFE),基于吸波暗室的測試方案或者稱之為空間衰落模擬(SFE)的測試方案,即多探頭測試技術。

多探頭測試技術Anechoic chamber (multi-probe, SFE)是基于吸波暗室的測試方案或者稱之為空間衰落模擬(SFE)的測試方案。如圖1所示,在暗室里設置多條電線模擬多路徑的發(fā)射,并通過基站模擬器和信道仿真儀實現(xiàn)MIMO信道模型的輸出。

圖1、LTE MIMO OTA測試方案

這種方案的優(yōu)點是概念簡單,支持的信道模型靈活。缺點是只能模擬水平方向的無線環(huán)境,復雜度高,系統(tǒng)校準復雜,造價昂貴,僅信道仿真儀就將花費200~300萬,加上MIMO暗室的建造預計需要耗費600~700萬。

為適應市場需求,目前市面上的手機基本上都安裝有2G、3G、4G、Wifi、GPS、北斗、Bluetooth等多種天線,所以在真實通信環(huán)境中存在眾多干擾、多徑的信道,而傳統(tǒng)的OTA測試方案無法實現(xiàn)真實通信環(huán)境的干擾、多徑的信道模型的模擬,從而無法精確甄別MIMO設備的性能表現(xiàn)。

圖2、實際情況干擾、多徑環(huán)境示意圖

鑒于以上原因將LTE MIMO 成熟穩(wěn)定的測試方案運用于手機測試市場,還有很長的路要走。然而現(xiàn)在手機市場發(fā)展迅猛,迫切需要一個切實可用的測試方案。于是富有遠見的工程師們將目光放在了CA技術上,LTE-Advanced系統(tǒng)引入一項增加傳輸帶寬的技術,也就是CA(Carrier Aggregation,載波聚合),CA 技術將2~5個LTE成員載波(ComponentCarrier,CC)聚合在一起,實現(xiàn)最大100MHz的傳輸帶寬,有效提高了上下行傳輸速率,終端根據(jù)自己的能力大小決定最多可以同時利用幾個載波進行上下行傳輸。

基于CA測試原理在測試廠商的努力之下,各種更便利的測試工具紛紛問世,2015年9月新益技術推出了一種經濟適用的LTE CA OTA測試方案,該方案配合羅德公司提供的R&S CMW500可以實現(xiàn)雙通道載波聚合,CA測試方案能有效減少真實的通訊環(huán)境中存在多徑、干擾信號影響,從而精確甄別MIMO設備的性能表現(xiàn)。該方案用CMW500綜合測試儀替代基站模擬器和信道仿真儀,用SY16-M替代傳統(tǒng)暗室如圖3所示。

圖3、LTE CA OTA測試方案

由于該方案采用了新益技術提供的SY16-M系統(tǒng)和最新研發(fā)的LTE-CA測試軟件以及羅德公司升級的R&S CMW500大大降低整套系統(tǒng)的成本。預計整套系統(tǒng)的費用可控制在200萬以內,成本只有傳統(tǒng)LTE MIMO OTA測試方案的1/3,并且整個測試場所所占面積也大幅度減少,如圖4所示為整套系統(tǒng)的實地部署圖。圖5所示為SY16-M內部結構圖。

圖4、LTE CA OTA測試方案實地部署圖

圖5、SY16-M內部結構圖

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