Stellaris™系列微控制器的ADC過采樣技術（一）
[導讀] 概述 Luminary Micro在Stellaris系列微控制器的部分產品中提供了模數轉換器（ADC）模塊。ADC的硬件分辨率為10位，但由于噪音和其它使精度變
|
概述 Luminary Micro在Stellaris系列微控制器的部分產品中提供了模數轉換器（ADC）模塊。ADC的硬件分辨率為10位，但由于噪音和其它使精度變小的因素的影響，實際的精度小于10位。本應用文檔提供了一個基于軟件的過采樣技術，從而使轉換結果的有效位數（ENOB）得到了改善。文檔中描述了對輸入信號執(zhí)行過采樣的方法，以及在精度和整個系統(tǒng)性能上的影響。
過采樣
過采樣，顧名思義就是從輸入信號中采集額外的轉換數據。模擬信號采樣的標準約定指出：采樣頻率fS至少是輸入信號的最高頻率成分fH的兩倍。這被稱作奈奎斯特采樣定理（Nyquist Theorem）（見等式1）。
等式1 奈奎斯特采樣定理：
fS＝2fH
只要所選的采樣頻率高于fS就被看作是過采樣。當過采樣與平均技術相結合時，可改善ENOB。這是可以實現(xiàn)的，因為在將過采樣的結果進行平均的同時也將量化噪音進行了平均，這樣就提高了信噪比（SNR），信噪比的提高會在ENOB上產生一個直接的影響，從而改善ENOB。
精度上每提高一位，必須對信號進行4倍的過采樣，即過采樣頻率fOS與采樣頻率fS的關系如等式2所示：
等式2 過采樣頻率：
fOS=4X*fS
x為ENOB上需改進的位數（例如，需要改進2位，則x＝2）。
平均
平均操作可看作是輸入信號上的一個低通濾波器，當采樣數據寬度（simple size）增加時濾波器的通帶變窄。有兩種方法可對轉換結果進行平均：常規(guī)平均和滑動平均（rolling average）。
常規(guī)平均
對輸入信號進行n次采樣，將采樣值相加并將結果除以n，這即是常規(guī)平均。圖1所示的即為常規(guī)平均。當在過采樣方案中使用常規(guī)平均時，使用該技術之后，用于計算平均值的采樣數據被丟棄。每次應用程序需要一個新的轉換結果時，重復該處理。
在應用中，常規(guī)平均方案可理想地用于采樣頻率與ADC的采樣率相比較小的情況。
要點：當在常規(guī)平均方案中執(zhí)行n倍過采樣時，有效的ADC采樣率將按照相同的因子降低。例如，在對輸入信號進行4倍過采樣時，最大的有效ADC采樣率降低為原來的1/4，即采樣率為250K/s的ADC有效地變?yōu)?/span>62.5K/s的ADC。
圖2顯示的解決方案使用常規(guī)平均對輸入源進行4倍過采樣。在該例中，應用要求在每個t階段（t0、t1、t2等等）準備好一個新值（平均操作完成）。
在使用平均技術時，因為計算后的轉換結果要與上面的n個采樣點對應，因此稍微有一點延遲。延遲時間使用等式3中的公式來計算：
等式3 平均后的采樣延遲：
tdelay=(tSn-tS0)/2+tprocess
tS0為進行平均時第一個采樣點出現(xiàn)的時間，tSn為最后一個采樣點出現(xiàn)的時間。中斷處理程序處理采樣數據所需的時間，并被計算為供應用使用的平均tproces也被分解到等式中。
滑動平均
滑動平均在平均計算中使用存放n個最近采樣值的采樣緩沖區(qū)，允許ADC在其最大采樣率時采樣（ADC采樣率并不象常規(guī)平均那樣減小為原來的1/n），這樣它可理想地用于要求過采樣和更高采樣率的應用中。在未知狀態(tài)中，采樣緩沖區(qū)能夠用有效的采樣數據預先填充（通過捕獲第一個“實際”數據點之前的n-1個采樣點），也可保持為空，由應用來決定。不預先填充緩沖區(qū)的危害是前面的n-1個采樣點包含無效的數據，并在滑動平均計算中產生不利的影響。如果這些影響可被應用所接受，并且如果軟件能夠解決前面的n-1個偏移的采樣點的可能性，則可去除緩沖區(qū)填充操作。
圖3顯示了采用滑動平均的過采樣實例。圖中顯示的情況為：輸入信號進行4倍過采樣，即采樣緩沖區(qū)使用4個最近的采樣值來計算平均值。在該例中，應用要求在每個t時刻有一個新的采樣值。在t0時刻計算第一個過采樣的結果之前，采樣緩沖區(qū)收集了3個采樣值，這樣提供給應用的第一個數據有效。
在使用滑動平均時，等式3中計算得來的采樣延遲也同樣適用。要點：因為必須在每次中斷過程中執(zhí)行采樣緩沖區(qū)處理，因此使用滑動平均增加了額外的處理開銷。
實現(xiàn)
Luminary Micro在ADC中使用采樣定序器（sample sequencer）結構，它使用一次觸發(fā)就可采集到高達17個不同的采樣值（來自任意的模擬通道），這樣過采樣的實現(xiàn)就變得非常簡單。而通過向應用提供在任意給定的時刻對多個通道進行過采樣的方法，使得軟件的實現(xiàn)也具有極大的靈活性。
下面將給出使用Stellaris微控制器的多種過采樣實現(xiàn)。有許多方法是將采樣定序器的配置、ADC觸發(fā)和中斷相結合來工作的。這里所舉的例子焦點都集中在最常使用的技術上。
所有的實例代碼都使用Stellaris系統(tǒng)驅動庫的ADC函數。驅動庫和本文檔中顯示的軟件實例的源代碼可從Luminary Micro網站：http://www.luminarymicro.com中獲得。
使用驅動庫函數的8倍過采樣
Stellaris驅動庫具有內置的允許進行高達8倍過采樣的函數。該級別的過采樣能夠使ENOB改進大約1.4位，因此在大多數應用中已足夠了。
使用驅動庫的過采樣函數是對輸入信號進行過采樣的最簡單的方法。配置“典型”ADC轉換和過采樣轉換的主要不同在于函數調用。過采樣函數有一個ADCSoftwareOversample前綴，很容易從標準ADC函數中識別出。
一旦確定好ADC轉換處理的參數（采樣頻率、觸發(fā)源、通道、等等），寫代碼是非常簡單的。舉例：例1中的代碼段即為建立一個8倍過采樣的10ms周期轉換（由定時器觸發(fā)）的代碼。
|
下載文檔
