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[導(dǎo)讀]接上一篇,盡管14條RTD測量通道的溫度測量誤差曲線具有一致的趨勢,但由于產(chǎn)量的變化,它們的斜率和截流量在一定程度上有所不同。為了對這一過程產(chǎn)生的所有RTD測量通道進(jìn)行誤差補(bǔ)償,需要找到14條溫度測量誤差曲線所包圍的區(qū)域的中間曲線。更合適的方法是使用一個分段函數(shù)來描述錯誤函數(shù),它分為兩個部分:零和零。

接上一篇,盡管14條RTD測量通道的溫度測量誤差曲線具有一致的趨勢,但由于產(chǎn)量的變化,它們的斜率和截流量在一定程度上有所不同。為了對這一過程產(chǎn)生的所有RTD測量通道進(jìn)行誤差補(bǔ)償,需要找到14條溫度測量誤差曲線所包圍的區(qū)域的中間曲線。更合適的方法是使用一個分段函數(shù)來描述錯誤函數(shù),它分為兩個部分:零和零。

首先,觀察零度以上的溫度測量誤差曲線.溫度測量誤差在0-140℃之間的變化是一個接近二次函數(shù)的曲線。 error (T) = AT2 + BT + C (T > 0).

本文選擇0℃時第三大和第三小誤差值的平均值作為誤差函數(shù)的常量C值。選擇0℃誤差的原因是,0℃時RTD的電阻值是它的名義電阻值。沒有選擇最大和最小誤差的兩個RTD測量通道的原因是它們更有可能是缺陷的。第二大和第二小誤差值也可能具有特異性。因此,選擇了第三大和第三小誤差值.據(jù)認(rèn)為,大多數(shù)好產(chǎn)品的誤差范圍(-0.04680℃,+0.08392℃)是由第三大和第三小誤差值包圍的。因此,取中點(diǎn)0。作為補(bǔ)償,01855°C可以在0°C時最大限度地優(yōu)化大多數(shù)好產(chǎn)品的性能。

系數(shù)A和B是通過曲線擬合得到的,如圖8所示。曲線擬合中使用的離散點(diǎn)是在每個固定溫度值上測量的14個誤差值的平均值。在零度以上有10個固定溫度值,因此曲線擬合基于這10個離散點(diǎn)的最佳擬合,曲線擬合的相關(guān)系數(shù)為0.9989。最后,將誤差函數(shù)確定為方程7.

圖8溫度測量誤差曲線擬合圖

觀察零度以下的溫度測量誤差曲線.可以看出,溫度誤差不會隨溫度在-25℃和0℃之間發(fā)生變化。因此,零以下的誤差曲線是一個接近常數(shù)的函數(shù) error [T] = D (T < 0). 同樣,誤差函數(shù)中的D值被確定為0℃時第三大和第三小誤差值的平均值。最后,將誤差函數(shù)確定為公式8.

誤差補(bǔ)償后的準(zhǔn)確性改進(jìn)

在得到誤差函數(shù)后,我們在微控制器程序中使用它來補(bǔ)償溫度測量值。當(dāng)我們得到由ADC轉(zhuǎn)換的二進(jìn)制數(shù)據(jù)時,我們計(jì)算由方程3和4測量的t,然后用方程8對誤差進(jìn)行補(bǔ)償。換句話說,我們使用相同的誤差函數(shù)來校準(zhǔn)所有的RTD溫度測量通道,這是一種節(jié)省時間和提高精度的校準(zhǔn)方法,可以補(bǔ)償整個測量范圍內(nèi)的誤差。

此處:

測量的T’值是誤差補(bǔ)償后的測量值,其他變量在前面定義。最后,我們需要驗(yàn)證使用錯誤函數(shù)的補(bǔ)償是否有效.通過從真實(shí)值中減去補(bǔ)償測量值,可以得到補(bǔ)償后的測量誤差,如公式10所示。

這里:

錯誤[T] 是T(°C)誤差補(bǔ)償后的誤差,其他變量是前面定義的。

根據(jù)表5所示的組合方法,我們選擇了9臺RTD和3臺AD7124-8設(shè)備組成9個RTD溫度測量通道。在恒溫器中放置了rtds,并選擇了與以前相同的高于零的固定溫度值進(jìn)行溫度測量。

表5ADC通信通道組合(驗(yàn)證)

RTD
EVB
ADC
rtd1
EVB1
CH0
Rtd2
EVB1
CH1
Rtd3
EVB1
CH2
Rtd4
EVB2
CH0
Rtd5
EVB2
CH1
Rtd6
EVB2
CH2
Rtd7
EVB3
CH0
Rtd8
EVB3
CH1
rtd9
EVB3
CH2

我們觀察了溫度測量誤差在零以上范圍內(nèi)的補(bǔ)償效應(yīng).初始溫度測量誤差和補(bǔ)償后的誤差分別見圖9和圖10。

圖9初始溫度測量誤差(T&T;0℃)。

圖10補(bǔ)償后的溫度測量誤差(T&T;0℃)。

圖中顯示的結(jié)果表明,當(dāng)溫度在0-140℃之間時,誤差補(bǔ)償可以在這一溫度范圍內(nèi)將溫度測量誤差從-0.8℃降至+0.2℃至-0.3℃至+0.15%。

然后,觀察零度以下溫度范圍的溫度測量誤差補(bǔ)償效應(yīng),選擇相同的固定低于零度溫度值進(jìn)行溫度測量。圖11和圖12分別顯示初始溫度測量誤差和補(bǔ)償溫度測量誤差。

圖11初始溫度測量誤差(T<0℃)。

圖12補(bǔ)償后的溫度測量誤差(T<0℃)。

圖中顯示的結(jié)果表明,當(dāng)測量的溫度在-25℃至0℃的范圍內(nèi)時,誤差補(bǔ)償可以使誤差從-0.1℃至+0.15%℃至-0.15%℃至+0.1℃。

總之,在-25℃至+140℃的溫度范圍內(nèi),溫度測量誤差用誤差函數(shù)補(bǔ)償后,可以保持在-0.3℃的范圍內(nèi),在-25℃至+140℃的溫度范圍內(nèi),9個RTD溫度測量通道中的8個通道可以保持在-25℃至+140℃的溫度測量誤差范圍內(nèi),這大大提高了溫度測量的準(zhǔn)確性。

引進(jìn)新產(chǎn)品

基于AD7124-8,ADI開發(fā)了一種新型芯片AD4130-8,具有超低功耗和尺寸小的特點(diǎn)。如數(shù)據(jù)表所示,當(dāng)啟用內(nèi)部振蕩器和內(nèi)部引用時,PGA增益=1至16的連續(xù)轉(zhuǎn)換模式下的典型耗電量為35倍A。在負(fù)荷周期比為1/4的模式下,典型的耗電量降至11-1,而在負(fù)荷周期比為1/16的模式下,典型的耗電量僅降至4.35-1。這種強(qiáng)大的性能可以在一個只有3.6毫米x2.74毫米的WLCSP包件中實(shí)現(xiàn)。

類似地,AD4130-8也適用于溫度測量,所以我們把rtd9插入AD4130-8Evb板,形成一個溫度測量通道。AD4130-8被配置為10sp,SINC3數(shù)字濾波器,全功率模式,PGA增益=1,勵磁電流=200a,它使模擬輸入緩沖區(qū)和參考電壓緩沖區(qū)。

測試了AD4130-8溫度測量系統(tǒng)的噪聲性能。我們記錄了100個溫度數(shù)據(jù)樣本,速率為10秒,持續(xù)時間為10秒。結(jié)果見圖13。

圖13AD4130-8噪聲圖。

如圖13所示,在上述配置下,Ad4130-8測量的100個樣本的尖峰至尖峰噪聲值為0.04℃。這一數(shù)值略高于Ad7124-8,但隨之而來的是電力消耗的大幅減少。

此外,還測量了AD4130-8溫度測量系統(tǒng)的溫度測量誤差。將rtd9置于恒溫器中,選擇15個固定溫度值,與以前一樣,在-25℃到+140℃之間,并記錄每一溫度下rdd溫度測量通道的溫度測量誤差。此外,我們還比較了結(jié)果與從rtd9和Ad7124-8形成的溫度測量通道獲得的溫度測量誤差曲線。結(jié)果見圖14。

如圖所示,在-25℃至+140℃的溫度范圍內(nèi),AD4130-8系統(tǒng)的溫度測量誤差與AD7124-8系統(tǒng)的溫度測量誤差無顯著差別。

圖14AD4130-8溫度測量系統(tǒng)的誤差曲線(-25℃<<140℃)。

結(jié)論

在本文中,我們選擇了ptfd101b1a0RTD溫度傳感器,并將其與ADC7124-8相結(jié)合,形成了一個溫度測量系統(tǒng),目的是最大限度地減少誤差源。詳細(xì)介紹了該芯片及其外圍器件的優(yōu)化配置.通過實(shí)際試驗(yàn),驗(yàn)證了本文設(shè)計(jì)的溫度測量系統(tǒng)的優(yōu)良性能:制造過程中不需要校準(zhǔn)過程;測量的溫度誤差可以保持在-25℃到+140℃的溫度范圍內(nèi)。選擇高成本效益的RTD、ADC和周邊設(shè)備,使整個溫度測量解決方案具有成本效益,同時保持高精度。

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