新產(chǎn)品可為實(shí)驗(yàn)室測(cè)試提供靈活性，并能夠提高PIC設(shè)計(jì)精度，從而加快上市時(shí)間

加利福尼亞州山景城2023年3月3日 /美通社/ -- 為提高對(duì)工藝技術(shù)的熟悉程度并增加光子集成電路（PIC）的可及性，OpenLight 今日宣布全面推出其工藝設(shè)計(jì)套件（PDK）采樣器。 該P(yáng)DK采樣器是一款獨(dú)特的芯片級(jí)PIC，其中包含OpenLight的標(biāo)準(zhǔn)PDK元件，令客戶能夠在自家實(shí)驗(yàn)室內(nèi)全面測(cè)試PDK元件并驗(yàn)證模型，從而在PH18DA流片中實(shí)現(xiàn)一次成功。 其元件包括OpenLight異構(gòu)激光器、光放大器、100G PAM4 EAM調(diào)制器，以及高塔半導(dǎo)體PH18DA工藝中的其他有源和無(wú)源元件。

OpenLight PDK采樣器

新工藝技術(shù)的采用通常涉及一條陡峭的學(xué)習(xí)曲線，對(duì)客戶而言是一項(xiàng)常見(jiàn)挑戰(zhàn)，尤其是伴隨著硅光子學(xué)領(lǐng)域的最新進(jìn)展。 這款全新行業(yè)產(chǎn)品為客戶提供了一條捷徑，令其可以在定制PIC設(shè)計(jì)流片之前，獲取直接來(lái)自實(shí)驗(yàn)室的數(shù)據(jù)，因而能夠立即對(duì)各個(gè)PDK元件展開(kāi)測(cè)試。 通過(guò)能夠在自家實(shí)驗(yàn)室內(nèi)測(cè)試PDK元件，客戶對(duì)高塔半導(dǎo)體的PH18DA工藝信心增強(qiáng)，并且能夠?qū)IC進(jìn)行光學(xué)和電氣探測(cè)。

OpenLight首席執(zhí)行官Adam Carter博士表示："通過(guò)高塔半導(dǎo)體提供的這款‘萬(wàn)能'PIC， 客戶可以更好地通過(guò)我們的開(kāi)放平臺(tái)對(duì)每個(gè)可用PDK元件進(jìn)行采樣。" "OpenLight的使命是率先為行業(yè)提供正確的設(shè)計(jì)工具，并加速PIC在各類市場(chǎng)和應(yīng)用中的大規(guī)模使用。 我們期待通過(guò)我們強(qiáng)大的PDK采樣器，為下一代設(shè)計(jì)鋪平道路。"

高塔半導(dǎo)體模擬事業(yè)部高級(jí)副總裁兼總經(jīng)理 Marco Racanelli博士表示："OpenLight將繼續(xù)補(bǔ)充高塔現(xiàn)有的開(kāi)放式晶圓代工產(chǎn)品。" "作為OpenLight的合作伙伴，此舉將使高塔的PH18DA工藝更易于為共同客戶所用，并幫助他們充分利用我們的技術(shù)。"

作為一家獨(dú)立公司，OpenLight于2022年6月成立，推出了全球首款具有異構(gòu)集成III-V族元件的開(kāi)放式硅光子平臺(tái)。 去年11月，該公司宣布其PDK全面上市。  

OpenLight PDK采樣器包含兩個(gè)PIC。 如需聯(lián)系OpenLight，了解最新發(fā)布和定價(jià)，請(qǐng)聯(lián)系 info@openlightphotonics.com。 如需了解更多信息，請(qǐng)?jiān)L問(wèn) https://openlightphotonics.com/。

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