現(xiàn)在，電子元件和印刷電路板運行速度越來越快，體積越來越小，通過使用小零件實現(xiàn)高性能、高速度，達到皮秒(萬億分之一秒)級的精度已經(jīng)成為了一種潮流，但這也這就意味著零件會發(fā)熱，甚至出現(xiàn)短路或者部件受損的情況。所以檢測這些由于發(fā)熱而受損的部件對于科研或者產(chǎn)品測試人員來說成為了一種挑戰(zhàn)。

而全球紅外熱像領域的高端供應商菲力爾最新推出的FLIR ETS320™紅外熱成像儀正好解決了這個難題，作為FLIR推出的專門針對在實驗室環(huán)境下進行電子元件和印刷電路板(PCB)熱特性測試與分析而設計的紅外熱像儀，F(xiàn)LIR ETS320™可以提高電子產(chǎn)品行業(yè)的測試和診斷精度，幫助工程師和測試技術員在數(shù)秒鐘內(nèi)收集精確、可靠的熱數(shù)據(jù)并執(zhí)行分析，輕松檢測出哪些部件受損。

那么這套針對電子實驗室所研發(fā)的紅外熱像儀究竟具備哪些特性，竟然可以使用在處在金字塔頂端的科研領域?

以往，實驗室測溫一般采用熱電偶和點溫計兩種方法，但是在實踐應用中，檢測人員需要直接接觸需要被檢測的電子器件或者印刷電路板，不但操作繁瑣，而且也給實驗數(shù)據(jù)的精準性帶來了局限。而FLIR ETS320™紅外熱像儀則完全避免了這些缺點，不僅檢測時間短，而且測量精度誤差小，在操作方面也極具靈活性，為測試人員提供方便的同時，也促進了產(chǎn)品的設計。

省去估算環(huán)節(jié)，快速的檢測

FLIR ETS320™具有非接觸式溫度測量和即時熱點檢測等優(yōu)點，可摒除熱測試中的猜測成分，檢測到細微溫度變化(< 0.06°C)和量程高達250°C的熱生成;無需像使用熱電偶和RTD(電阻式溫度檢測器)測量那樣進行熱點位置估算，可以快速發(fā)現(xiàn)熱點和潛在故障點，節(jié)省大量時間。

76，800點溫度測量，讓設計缺陷無所遁形

借助其搭載的320*240像素的紅外傳感器，F(xiàn)LIR ETS320™可以提供 76，800點的溫度測量，同時具有真45°視場角，可進行范圍較廣的初次掃描， 檢測人員可以輕松鎖定熱點，識別潛在的故障點，無需擔心藏于暗處的散熱器。 溫度測量精度更是高達±3°C，可測量小至170 μm/像素點尺寸的部件，可以確保產(chǎn)品達到質(zhì)量保證和工廠驗收標準。

小平臺設計，解放了人的雙手

FLIR ETS320™采用恒定的非接觸式熱測試方法，將高靈敏度熱像儀與可調(diào)節(jié)的免手持式實驗臺架相結(jié)合，使測試目標穩(wěn)定地固定在檢測儀表下，提供固定、恒定的焦距、不會搖晃和振動，解放了人的雙手。在檢測時，可以通過拉近鏡頭對較小的部件進行成像，或者拉遠鏡頭將整個電路板納入視野，適應了電子元件越來越快，越來越小的檢測新要求。

借助一體式測試臺和滑動架，該熱像儀系統(tǒng)達到了最佳的靈活性，能夠?qū)Ω鞣N印刷電路板或電子設備進行成像。

連接電腦，高級分析不是事

FLIR ETS320™自帶強大的FLIR Tools+軟件系統(tǒng)，可以存儲1500張照片，具有SD卡存儲和USB下載功能。如果需要執(zhí)行高級分析，例如，繪制時間對應溫度的曲線，可以通過USB口將熱像儀連接至安裝有FLIR Tools+軟件的PC或電腦，它可以自動連接并生成實時圖像，用于高級分析和數(shù)據(jù)傳輸。

無論是科學研究或工業(yè)產(chǎn)品測試，熱數(shù)據(jù)都是是衡量系統(tǒng)運行的一個重要指標。隨著電子產(chǎn)品變得越來越小、功能越來越強大，觀察和了解這些系統(tǒng)的熱性能勢在必行。而FLIR ETS320™熱像儀具有較高的測量精度，能將細微的溫差以可視化的方式呈現(xiàn)，有助于熱性能評價、確保環(huán)境兼容性以及對多種電子產(chǎn)品執(zhí)行故障診斷。