愛德萬測試(Advantest)宣布推出最新智慧化生產測試系統(tǒng)解決方案 TFI 2.0 ，這套系統(tǒng)主要針對半導體測試過程所產生的大量資料加以探勘及分析，以提高生產測試作業(yè)的總體設備效能(OEE)。
愛德萬測試第二代 TFI 解決方案主要功能在于執(zhí)行即時資料收集、控管，并提供線上報表功能，方便測試現(xiàn)場主管人員隨時評估測試機臺利用率、設備狀態(tài)、故障偵測、有效良率與其他關鍵作業(yè)參數條件；此外，此系統(tǒng)亦提供問題偵測功能，找出測試程式、介面硬體和測試設備潛在問題，避免產能受到影響。

這套軟體解決方案可管理目前自動化測試設備 (ATE) 所產生的大量資料，除了傳統(tǒng)測試資料記錄檔所記載的資訊之外，還包括即時設備狀態(tài)和運作狀況、維護記錄與測試機臺配置設定。它提供了前所未見的互動性、自訂功能性和可擴展性，更能處理高達TB規(guī)模的測試資料量。

愛德萬測試全球測試量產軟體解決方案行銷總監(jiān)Steve Ledford表示：「要獲得最佳化總體設備效能(OEE)并非易事，這必須結合大量資料來源、快速分析能力和自動化流程控制，才能使測試機臺利用率、測試時間、維護周期與有效良率達到最佳化狀態(tài)。這套 TFI 2.0 是我們提供可被所有測試機臺存取的單一伺服器，提供整合的資料收集與報表功能的第一步，客戶亦能在此開放式具彈性的解決方案架構下，來整合工廠的現(xiàn)存系統(tǒng)。」

Infrastructure Advisors產業(yè)分析師兼諮詢顧問Ron Leckie表示：「總體設備效能現(xiàn)已是半導體廠與封測代工廠 (OSAT) 相當重視的議題，各家廠商無不想盡辦法要達到測試流程最佳化，雖說多元件同測(multi sites)可大幅提升設備效率，不過若要再進一步大幅提升，無疑必須仰賴新一代軟體工具主動監(jiān)視并控管整體測試流程，包括從自動化測試設備、分類機、針測機，到介面硬體、測試程式和測試作業(yè)。」

這套專為業(yè)界主要 IC 設計公司、封測代工廠和半導體晶圓代工廠所設計 TFI 2.0 ，于2013年7月在全球上市。