科技在發(fā)展，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，LED技術(shù)也在不斷發(fā)展，為我們的生活帶來各種便利，為我們提供各種各樣生活信息，造福著我們?nèi)祟?。按照正常流程，在一款LED燈珠作為合格產(chǎn)品出廠之前，應(yīng)該要經(jīng)歷耐壓測試環(huán)節(jié)。但是很說廠家在生產(chǎn)過程中主動(dòng)的忽略了這個(gè)環(huán)節(jié)，因?yàn)樵谀蛪簻y試過程中有很大的幾率會(huì)出現(xiàn)燈珠死燈的情況。

實(shí)際上，即便耐壓達(dá)3.75KV的燈珠都無法通過3KV的耐壓測試，為什么會(huì)有這個(gè)結(jié)果呢?在增壓環(huán)節(jié)中造成LED的損壞的原因主要有兩個(gè)。一是電壓超出，二是電流超出。耐壓測試的漏電流都設(shè)在10mA左右，一般不會(huì)超出LED允許的電流值。導(dǎo)致LED損壞的最大可能是電壓超出。本文將針對電壓超出的情況進(jìn)行分析，感興趣的朋友快來看一看吧。

燈具是由驅(qū)動(dòng)電源LED和散熱體三部分組成的。耐壓測試一般是測試驅(qū)動(dòng)電源輸入端和人體能夠接觸到的燈具外殼間的耐壓值。耐壓靠絕緣實(shí)現(xiàn)。輸入端到外殼的絕緣由兩部份組成，一個(gè)是電源初次級的絕緣(非隔離電源除外)，一個(gè)是燈珠和散熱體(一般和外殼成一體)間的絕緣。交流供電的燈具用交流高壓進(jìn)行耐壓測試的。見圖1。

圖1

圖中CY是驅(qū)動(dòng)電源的Y電容，CY1和CY2是鋁基板正負(fù)極銅箔和鋁板間的分部電容。耐壓測試時(shí)的高壓直接施加到CY和CY1/CY2之間。等效下圖。

圖2

假設(shè)施加的交流高壓為VC，電源Y電容上分到的電壓為VCY，鋁基板分布電容上分到電壓VCY1/2，那么VC=VCY+VCY1/2。我們知道，電容容抗Xc=1/(2πfC)，電容容量越大容抗越小，在串聯(lián)電路中分到的電壓也越小，相反也成立。在本例中，電源的Y電容是定值，在1000p到2200P之間。假設(shè)鋁基板的分布電容值與電源的Y電容值相等，則鋁基板分到的電壓與電源Y電容分到的電源相等，均為1/2的VC。如果CY1/2小于CY，則VCY1/2將大于VCY，也就是說鋁基板上加的電壓高于一半的耐壓測試高壓值，分布電容越小，此電壓越高。這時(shí)其一。

其二，鋁基板的銅箔有正負(fù)兩極，這兩銅箔并沒連在一起，串并后的發(fā)光二極管連在這兩極間，兩個(gè)銅箔的分布電容是分立的。銅箔形狀的不同使得分布電容大小不同，分到的高壓也不同。如果負(fù)極的電壓比正極高，則電源次級變壓器繞組和整流管導(dǎo)通，電壓被強(qiáng)行拉平到正極電壓，此種情況不會(huì)引起LED超壓死燈，而如果是正極電壓比負(fù)極電壓高，這時(shí)就有電流(這個(gè)電流不同于漏電流)流過LED，這就是在耐壓測試時(shí)LED會(huì)閃亮的原因。

這個(gè)電壓越高，LED越亮。大到一定程度超出LED耐壓時(shí)，就會(huì)損壞LED的PN結(jié)。正極電壓比負(fù)極電壓高的另一種情況就是負(fù)極擊穿了，處于零電位，這時(shí)候正極只要分到極低的電壓也足以導(dǎo)致LED損壞。因此LED損壞的主要原因是正負(fù)極間壓差太大，這個(gè)壓差是由鋁基板上正負(fù)極銅箔的形狀和位置決定的。通過以上的介紹，可以看到正負(fù)極之間的壓差過大是造成LED燈珠損壞的主要原因。

過大的電壓會(huì)造成LED的PN結(jié)損壞，從而得到死燈的結(jié)果，希望大家在看過本文之后能了解LED燈珠的增加測試，并且對電壓過高的造成死燈有進(jìn)一步的了解。相信在未來的科學(xué)技術(shù)更加發(fā)達(dá)的時(shí)候，LED會(huì)以更加多種類的方式為我們的生活帶來更大的方便，這就需要我們的科研人員更加努力學(xué)習(xí)知識(shí)，這樣才能為科技的發(fā)展貢獻(xiàn)自己的力量。