國家儀器每年都會(huì)發(fā)布一份《自動(dòng)化測試展望》。該展望來自高強(qiáng)度研究、與顧客和供應(yīng)商的密切接觸以及一個(gè)顧客咨詢委員會(huì)，總結(jié)了自動(dòng)化測試領(lǐng)域的關(guān)鍵趨勢。你可能會(huì)覺得有些趨勢是從國家儀器這家公司的角度出發(fā)，但事實(shí)上所有這些趨勢都反映了很多機(jī)構(gòu)在保持測試設(shè)備與戰(zhàn)略競爭力方面所面臨的問題。

因此可以說國家儀器預(yù)測的趨勢對(duì)于評(píng)估你所在機(jī)構(gòu)對(duì)未來五到七年里自動(dòng)化測試挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備程度。我們來看看國家儀器認(rèn)為將帶來挑戰(zhàn)的趨勢：同時(shí)從測試戰(zhàn)略和哲學(xué)的角度進(jìn)行思考。

1. 優(yōu)化測試組織：人人都知道深入設(shè)計(jì)流程以后，尋找設(shè)計(jì)缺陷的成本就會(huì)進(jìn)入指數(shù)增長。很多OEM廠商都想效仿蘋果公司的成功，但很少有公司希望遭遇iPhone 4天線問題那樣的公開危機(jī)。有理由相信蘋果公司自己也從這次危機(jī)中汲取了一些教訓(xùn)。

OEM廠商必須在看待測試的時(shí)候不能只考慮成本。趨勢是優(yōu)化測試組織，將其變?yōu)橐环N競爭優(yōu)勢。這不可能在一夜間完成，必須經(jīng)過一系列錘煉，學(xué)習(xí)如何重用測試流程中的元素。

2. 在設(shè)計(jì)流程中進(jìn)行測量和模擬：同時(shí)進(jìn)行設(shè)計(jì)和測試是過去幾十年來的鐵律。很多實(shí)驗(yàn)室都努力實(shí)現(xiàn)先測試子系統(tǒng)在將其整合進(jìn)整個(gè)系統(tǒng)的能力。國家儀器認(rèn)為軟件可以將測試帶入設(shè)計(jì)流程初期，其中測試軟件將主導(dǎo)設(shè)計(jì)環(huán)境。

這意味著現(xiàn)代EDA軟件連接設(shè)計(jì)環(huán)境和測試軟件的作用越來越顯著。這使得EDA軟件環(huán)境能夠驅(qū)動(dòng)測量軟件，同時(shí)也讓測量自動(dòng)化環(huán)境改變EDA設(shè)計(jì)環(huán)境。

互聯(lián)的EDA與測試軟件通過更豐富的測量改善了設(shè)計(jì)流程。一個(gè)增長中的趨勢是從設(shè)計(jì)到測試使用相同的工具鏈——該趨勢最終讓工程師得以將測量帶入設(shè)計(jì)流程上游。第二個(gè)趨勢是利用EDA工具中的行為模型加速產(chǎn)品驗(yàn)證與生產(chǎn)類測試軟件的開發(fā)。這里的關(guān)鍵是在寫代碼時(shí)用虛擬原型作為DUT。

3. PCI Express外置接口：PCI Express（PCIe）正緩慢而堅(jiān)定地成長為地球上最普及的總線。PCI-SIG統(tǒng)計(jì)顯示目前PCIe插槽裝機(jī)量已達(dá)到270億條。2010年發(fā)布的PCIe 3.0規(guī)格將雙向數(shù)據(jù)傳輸率提升至16GB/s（每向），啟動(dòng)延時(shí)也極低。

我們習(xí)慣將PCIe用于內(nèi)部總線。但早在2007年P(guān)CI-SIG就宣布支持名為cabled PCIe的外部實(shí)現(xiàn)，目前已經(jīng)被用于模塊化儀器。