中國(guó) 北京，2013年10月24日 –測(cè)試、測(cè)量及監(jiān)測(cè)儀器的全球領(lǐng)導(dǎo)廠商—泰克公司日前宣布，推出實(shí)時(shí)內(nèi)存執(zhí)行驗(yàn)證解決方案，以提供針對(duì)JEDEC DDR4、DDR3和DDR3L內(nèi)存標(biāo)準(zhǔn)的更快速協(xié)議、性能及一致性分析。由泰克合作伙伴Nexus Technology開(kāi)發(fā)的MCA4000協(xié)議一致性和總線協(xié)議分析儀提供長(zhǎng)時(shí)間周期內(nèi)的內(nèi)存接口即時(shí)可觀測(cè)性，從而提供對(duì)內(nèi)存總線活動(dòng)的深入洞悉，這有助于縮短調(diào)試周期和加快產(chǎn)品上市速度。

隨著行業(yè)轉(zhuǎn)向具有更高數(shù)據(jù)傳輸速率、更低功耗和更大容量的DDR4和DDR3L等新型內(nèi)存技術(shù)，設(shè)計(jì)人員在調(diào)試和驗(yàn)證具有更小余量、更快邊沿速率和復(fù)雜總線協(xié)議的器件時(shí)面臨許多新挑戰(zhàn)。通過(guò)增加實(shí)時(shí)內(nèi)存執(zhí)行驗(yàn)證功能，泰克以最完整的內(nèi)存分析解決方案系列滿足了這些苛刻要求，這些解決方案中包括用于電氣測(cè)試和邏輯調(diào)試的現(xiàn)有解決方案，以及廣泛的探頭、內(nèi)插器和軟件分析產(chǎn)品系列。

“最新JEDEC標(biāo)準(zhǔn)使內(nèi)存驗(yàn)證和調(diào)試成為一項(xiàng)非常困難和要求更為苛刻的任務(wù)，這是以前從未有過(guò)的，”泰克公司高性能示波器總經(jīng)理Brian Reich表示，“(內(nèi)存)執(zhí)行驗(yàn)證完善了我們的解決方案系列，使客戶能夠獲得其需要的廣泛測(cè)試解決方案來(lái)快速隔離問(wèn)題和調(diào)試各類(lèi)內(nèi)存，速度和外形因素都不再是障礙。”

MCA4000內(nèi)存一致性分析儀采用雙重架構(gòu)，使協(xié)議違規(guī)檢測(cè)能夠與采集和分析違規(guī)以及確定總線性能的能力相結(jié)合。MCA4000集成了一個(gè)協(xié)議分析儀，能夠監(jiān)測(cè)DDR內(nèi)存總線速度，實(shí)時(shí)報(bào)告有關(guān)事件和違規(guī)的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。另外它還集成了一個(gè)周期采集深度為1G的全功能邏輯分析儀。

該儀器包含一個(gè)完全可編程前端，其能生成類(lèi)似于示波器的眼圖，從而以圖形方式說(shuō)明DDR PHY設(shè)置、總線完整性和所需的樣點(diǎn)。泰克探頭和內(nèi)插器系列可在泰克7000系列邏輯分析儀和MCA4000之間通用，這提供了以單一負(fù)載同時(shí)查看高速定時(shí)、狀態(tài)、協(xié)議及實(shí)時(shí)分析數(shù)據(jù)的能力。