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[導(dǎo)讀]在傳統(tǒng)的連續(xù)導(dǎo)通模式 (CCM) 控制下,需要一種經(jīng)濟(jì)高效的解決方案來(lái)改善輕負(fù)載下的功率因數(shù)校正 (PFC) 并實(shí)現(xiàn)峰值效率,同時(shí)縮小無(wú)源元件,而這變得越來(lái)越困難。工程師們正在對(duì)復(fù)雜的多模式解決方案進(jìn)行大量研究,以解決這些問(wèn)題 [1]、[2],這些方法很有吸引力,因?yàn)樗鼈兛梢钥s小電感器的尺寸,同時(shí)通過(guò)輕負(fù)載下的軟開(kāi)關(guān)提高效率。

在傳統(tǒng)的連續(xù)導(dǎo)通模式 (CCM) 控制下,需要一種經(jīng)濟(jì)高效的解決方案來(lái)改善輕負(fù)載下的功率因數(shù)校正 (PFC) 并實(shí)現(xiàn)峰值效率,同時(shí)縮小無(wú)源元件,而這變得越來(lái)越困難。工程師們正在對(duì)復(fù)雜的多模式解決方案進(jìn)行大量研究,以解決這些問(wèn)題 [1]、[2],這些方法很有吸引力,因?yàn)樗鼈兛梢钥s小電感器的尺寸,同時(shí)通過(guò)輕負(fù)載下的軟開(kāi)關(guān)提高效率。

但在本電源技巧中,我將介紹一種實(shí)現(xiàn)高效率和低總諧波失真 (THD) 的新方法,該方法不需要使用復(fù)雜的多模式控制算法,并且在所有工作條件下均可實(shí)現(xiàn)零開(kāi)關(guān)損耗。此方法使用高性能氮化鎵 (GaN) 開(kāi)關(guān),該開(kāi)關(guān)帶有一個(gè)集成標(biāo)志,可指示開(kāi)關(guān)是否以零電壓開(kāi)關(guān) (ZVS) 開(kāi)啟。此方法可在所有工作條件下實(shí)現(xiàn)高效率 ZVS,同時(shí)將 THD 強(qiáng)制降至非常低的水平。

拓?fù)?

該系統(tǒng)使用的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)是集成三角電流模式 (iTCM) 圖騰柱 PFC [3]。對(duì)于高功率和高效率系統(tǒng),圖騰柱 PFC 在傳導(dǎo)損耗方面具有明顯優(yōu)勢(shì)。該拓?fù)涞?TCM 版本通過(guò)確保電感器電流在開(kāi)關(guān)打開(kāi)之前始終足夠負(fù)來(lái)強(qiáng)制 ZVS [4]。圖 1顯示了圖騰柱 PFC 的 iTCM 版本。

圖 1 iTCM 拓?fù)?,顯示交流線頻率電流包絡(luò)。

TCM 轉(zhuǎn)換器和 iTCM 轉(zhuǎn)換器之間的區(qū)別在于 L b1、 L b2和 C b的存在。在正常運(yùn)行期間,C b兩端的電壓等于輸入電壓 V ac。兩相以 180 度相位差工作,可利用紋波電流抵消并降低 C b中的均方根電流應(yīng)力。L b1和 L b2的大小僅用于處理 TCM 運(yùn)行所需的高頻交流紋波電流。這消除了 TCM 中使用的電感所需的直流偏置,如 [4] 中定義。L b1和 L b2的鐵氧體磁芯有助于確保在 ZVS 所需的高磁通量擺幅下實(shí)現(xiàn)低損耗。L g1和 L g2的值比 L b1和 L b2大(大 10 倍),這可防止大部分高頻電流流入輸入源,從而降低電磁干擾 (EMI)。此外,L g1和 L g2中紋波電流的降低使得可以使用成本較低的磁芯材料。圖 1 還說(shuō)明了幾個(gè)關(guān)鍵分支的紋波電流包絡(luò)。

控制

控制由德州儀器 (TI) TMS320F280049C 微控制器和 LMG3526R030 GaN 場(chǎng)效應(yīng)晶體管 (FET) 實(shí)現(xiàn)。這些 FET 具有集成的零電壓檢測(cè) (ZVD) 信號(hào),只要開(kāi)關(guān)以 ZVS 開(kāi)啟,該信號(hào)就會(huì)被置位。微控制器使用 ZVD 信息來(lái)調(diào)整開(kāi)關(guān)時(shí)序參數(shù),以剛好足夠的電流開(kāi)啟開(kāi)關(guān)以實(shí)現(xiàn) ZVS。為簡(jiǎn)單起見(jiàn),圖 2顯示了單相 iTCM PFC 轉(zhuǎn)換器。表 1定義了該圖中使用的關(guān)鍵變量。微控制器使用一種算法來(lái)求解系統(tǒng)的精確微分方程組。這些方程使用在兩個(gè)開(kāi)關(guān)上強(qiáng)制 ZVS 并強(qiáng)制電流等于電流命令的條件。只要系統(tǒng)以適合兩個(gè)開(kāi)關(guān)的正確 ZVS 量運(yùn)行,這些方程就是準(zhǔn)確的。正確運(yùn)行時(shí),該算法可產(chǎn)生 0% THD 和最佳 ZVS 量的時(shí)序參數(shù)。為了促進(jìn) ZVS 條件,每個(gè)開(kāi)關(guān)(S 1和 S 2)都會(huì)逐周期向微控制器報(bào)告其各自的 ZVS 導(dǎo)通狀態(tài)。在圖 2 中,V hs,zvd和 V ls,zvd表示 ZVD 報(bào)告。

圖 2帶有控制信號(hào)的單相 iTCM 示意圖。

表1開(kāi)關(guān)時(shí)序參數(shù)及定義。

圖 3說(shuō)明了 ZVD 時(shí)序調(diào)整過(guò)程。在每個(gè)開(kāi)關(guān)周期中,微控制器計(jì)算開(kāi)關(guān)時(shí)序參數(shù)(t on、t off、t rp和 t rv) 基于 ZVD 信號(hào)的累積歷史。圖 3b 顯示了系統(tǒng)在理想頻率下運(yùn)行的情況。理想情況是指 THD 為 0%,并且高端和低端 FET 具有完美的 ZVS 量。圖 3a 顯示了當(dāng)工作頻率比理想頻率低 50 kHz 時(shí)發(fā)生的情況。請(qǐng)注意,高端 FET 丟失 ZVS(由高端 ZVD 信號(hào)的丟失所示),而低端 FET 具有比實(shí)現(xiàn) ZVS 所需的更多的負(fù)電流。結(jié)果是效率損失和功率因數(shù)失真。圖 3c 發(fā)生在工作頻率比理想頻率高 50 kHz 時(shí)。在這種情況下,高端 FET 具有 ZVS,但低端 FET 丟失 ZVS。同樣,效率損失和失真明顯。

圖 3低 f s時(shí)的 ZVD 行為(a);理想 f s 時(shí)的ZVD 行為(b);以及高 f s時(shí)的 ZVD 行為(c)。

根據(jù) ZVD 信號(hào)的存在與否,控制器可以增加或減少頻率,以將系統(tǒng)推至最佳工作點(diǎn)。這樣,控制工作就像一個(gè)積分器,試圖找到最佳工作頻率。當(dāng)系統(tǒng)徘徊在每個(gè)周期剛好獲得 ZVS 的閾值上時(shí),就會(huì)出現(xiàn)最佳狀態(tài)。

原型性能

圖 4顯示了使用我迄今為止討論的拓?fù)浜退惴?gòu)建的原型。

圖4: 400V、5kW原型,功率密度為120W/ in3。

表 2總結(jié)了原型的規(guī)格和重要元件值。

表2系統(tǒng)規(guī)格及重要組件

圖 5說(shuō)明了原型在滿(mǎn)功率 (5 kW) 下運(yùn)行的系統(tǒng)波形。開(kāi)關(guān)節(jié)點(diǎn)電流 I L,A和 I L,B是其各自分支的 L g和 L b中電流的總和。圖的縮放部分顯示了正半周期內(nèi)的波形細(xì)節(jié)。電流波形具有理想的三角形形狀,負(fù)電流剛好足以實(shí)現(xiàn) ZVS,如開(kāi)關(guān)節(jié)點(diǎn)電壓 V A和 V B所示。此外,電流波形的正弦包絡(luò)表明 THD 較低。

圖5:原型機(jī)在滿(mǎn)功率下運(yùn)行的系統(tǒng)波形(V in = V out /2,負(fù)載 = 5 kW,V in = 230 V ac,V out = 400 V)。

圖 6顯示了負(fù)載范圍內(nèi)的測(cè)量效率和 THD。效率峰值超過(guò) 99%,幾乎在整個(gè)負(fù)載范圍內(nèi)都高于 98.5%。THD 最大值為 10%,在大部分負(fù)載范圍內(nèi)低于 5%。為了優(yōu)化性能,單元相位在約 2 kW 時(shí)會(huì)減少或增加相位。

圖 6整個(gè)負(fù)載范圍內(nèi)的原型效率和 THD。

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