加利福尼亞州圣何塞2022年5月24日 /美通社/ -- 領先的端到端數(shù)字病理學解決方案提供商OptraSCAN^®宣布，其數(shù)字病理學掃描儀OS-SiA已獲得美國專利商標局授予美國專利，編號2020/0334814 A1。OS-SiA采用內(nèi)置智能技術設計，可同時對病理樣本進行掃描、索引和分析。這將使最終用戶能夠在審查過程中查看整個切片掃描圖像，并附加分析結(jié)果。

OS-SiA: Digital Pathology Scanner with AI

該項專利描述了OptraSCAN公司發(fā)明的一種技術：人工智能數(shù)字病理掃描儀OS-SiA可自動識別樣本以進行掃描，同時對掃描組織或細胞區(qū)域進行分析。OS-SiA是業(yè)界首款人工智能數(shù)字掃描儀，可提供實時預測性分析和可行的見解。

OptraSCAN創(chuàng)始人兼首席執(zhí)行官Abhi Gholap表示："目前，數(shù)字病理切片掃描儀僅限于采集部分或全部切片圖像并將其進行數(shù)字化成像。我們的下一代掃描儀OS-SiA可以同時進行掃描和分析，無需額外的處理應用程序， 這項專利凸顯了我們?yōu)楦倪M數(shù)字病理學解決方案的采用和支持病理學界而不斷做出的努力。"

OS-SiA可嵌入其現(xiàn)有的云技術明場系列掃描儀，即OS-Lite和OS-Ultra。定制算法可在掃描時提供實時ROI檢測、IHC/HNE標志物的細胞定量，以及使用核心庫構(gòu)建的形態(tài)學測量。整個切片圖像可通過本地/網(wǎng)絡/云技術影像檢視器查看。深度學習計算模塊可實現(xiàn)掃描設備自我學習。

"這是我們加速采用數(shù)字病理學所需的突破，同時進行掃描和分析將幫助病理學家做出更快的決策并改善患者預后"， OptraSCAN醫(yī)學顧問、 不列顛哥倫比亞大學病理學系主任Zu-Hua Gao博士表示。