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用2600系列數(shù)字源表進(jìn)行IDDQ測(cè)試和待機(jī)電流測(cè)試
CMOS集成電路(CMOS IC)和電池供電產(chǎn)品的制造商需要測(cè)量靜態(tài)(或“待機(jī)”)電源電流用于驗(yàn)證生產(chǎn)測(cè)試質(zhì)量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏電電流測(cè)量過(guò)程被稱為IDDQ測(cè)試。此測(cè)試要求在IC處于靜態(tài)條件下測(cè)
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