-
納米級表面粗糙度測量：白光干涉儀的環(huán)境振動補(bǔ)償技術(shù)
白光干涉儀通過分析干涉條紋的變化來測量表面高度信息。當(dāng)存在環(huán)境振動時，干涉儀的光學(xué)元件和被測樣品會發(fā)生微小位移，使得干涉條紋的相位和強(qiáng)度發(fā)生變化。這種變化會干擾正常的測量信號，導(dǎo)致測量結(jié)果出現(xiàn)偏差。特別是在納米級測量中，微小的振動都可能引起較大的測量誤差。
白光干涉儀通過分析干涉條紋的變化來測量表面高度信息。當(dāng)存在環(huán)境振動時，干涉儀的光學(xué)元件和被測樣品會發(fā)生微小位移，使得干涉條紋的相位和強(qiáng)度發(fā)生變化。這種變化會干擾正常的測量信號，導(dǎo)致測量結(jié)果出現(xiàn)偏差。特別是在納米級測量中，微小的振動都可能引起較大的測量誤差。
本站介紹 | 申請友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務(wù) | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠聘英才
ICP許可證號：京ICP證070360號 21ic電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶舉報(bào)窗口（ 郵箱：macysun@21ic.com ）
